Das Fraunhofer-Institut für Photonische Mikrosysteme IPMS hat gemeinsam mit den Partnern Credoxys GmbH und SweepMe! GmbH das öffentlich geförderte Projekt „SMut“ gestartet. Ziel ist die Entwicklung eines neuartigen Messsystems zur präzisen Charakterisierung organischer Dünnfilmmaterialien, das neue Standards in der organischen Elektronik und dünnfilmbasierten Gas-Sensorik setzen soll.

Das System besteht aus einer Basisstation und mehreren Proben-Carriern, die in einer Glovebox mit sensiblen Forschungsproben bestückt werden können. Es ermöglicht elektrische und photoelektrische Experimente unter variablen Bedingungen wie unterschiedlichen Gasen, Drücken und Temperaturen. Die Carrier sind unter Schutzgas handhabbar und entnehmbar und erlauben Langzeitmessungen über mehrere Wochen.

Die neue Generation von Chips und Messadaptern des Fraunhofer IPMS dient als technische Grundlage. Die Softwarelösung von SweepMe! ermöglicht eine intuitive Konfiguration nahezu jedes Messgeräts und jeder Messroutine. Dadurch entsteht erstmals eine out-of-the-box nutzbare Charakterisierungsplattform.

Projektleiter Dr. Alexander Graf vom Fraunhofer IPMS betonte die Handhabbarkeit unter Schutzgas und die Eignung für Langzeituntersuchungen. Dr. Axel Fischer, Geschäftsführer von SweepMe!, hob die intuitive Bedienbarkeit hervor. Dr. Jörn Vahland von Credoxys erklärte, dass das System den enormen Aufwand bei der Charakterisierung von OLED-Materialien – insbesondere bei Langzeitmessungen unter kontrollierter Atmosphäre und Temperatur – erheblich reduzieren und Reproduzierbarkeit sowie Messmöglichkeiten auf ein neues Niveau heben werde.

Das Grundkonzept und der Systemaufbau werden auf der Analytica in München am Messstand des Fraunhofer IPMS in Halle A3, Stand 312, vorgestellt. Individuelle Termine können vorab über die Webseite des Instituts vereinbart werden.

Das Projekt wird aus Mitteln des Europäischen Fonds für regionale Entwicklung (EFRE) sowie aus Steuermitteln auf Grundlage des vom Sächsischen Landtag beschlossenen Haushalts gefördert.

Redaktion: X-Press Journalistenbüro GbR

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